Главная

Популярная публикация

Научная публикация

Случайная публикация

Обратная связь

ТОР 5 статей:

Методические подходы к анализу финансового состояния предприятия

Проблема периодизации русской литературы ХХ века. Краткая характеристика второй половины ХХ века

Ценовые и неценовые факторы

Характеристика шлифовальных кругов и ее маркировка

Служебные части речи. Предлог. Союз. Частицы

КАТЕГОРИИ:






Дальняя тонкая структура спектра рентгеновского поглощения




Extended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS).

Этот метод позволяет получать информацию о строении твердого тела, а также молекул в растворе на уровне среднего и ближнего порядка. В отличие от методов рентгенной и электронной дифракции этот метод не требует реализации более или менее выраженного дальнего порядка, т.е. образования кристаллитов.

EXAFS – основной метод исследования аморфных веществ, а также структуры комплексов (ферментов) в химической среде (растворе). EXAFS базируется на использовании характеристического рентгеновского излучения, которое не зависит от кристалличности образца и определяется структурой ближайшего окружения. Природа EXAFS связана с интерференцией выбитых электронов на соседних атомах. Эти осцилляции могут достигать 10% общей интенсивности поглощенного рентгеновского излучения, они несут информацию о строении первой, а также второй (в некоторых случаях третьей) координационных оболочек для атома данного типа. Дальнодействие, отвечающее за появление EXAFS примерно равно 6Å.

Фотон, выбитый из внутренней оболочки i-го атома будет иметь ħw=Есв. Выбитый электрон является корпускулярно-волновой частицей. Его можно представить в виде сферической волны, которая будет характеризоваться волновым числом к=Р/ħ. Эта сферическая волна, достигшая соседнего j-го атома, может отразиться (рассеяться) с вероятностью f.






Не нашли, что искали? Воспользуйтесь поиском:

vikidalka.ru - 2015-2024 год. Все права принадлежат их авторам! Нарушение авторских прав | Нарушение персональных данных