Главная

Популярная публикация

Научная публикация

Случайная публикация

Обратная связь

ТОР 5 статей:

Методические подходы к анализу финансового состояния предприятия

Проблема периодизации русской литературы ХХ века. Краткая характеристика второй половины ХХ века

Ценовые и неценовые факторы

Характеристика шлифовальных кругов и ее маркировка

Служебные части речи. Предлог. Союз. Частицы

КАТЕГОРИИ:






Формула Вульфа-Брегга




Тепер ці кути вимірюють за допомогою рентгенограми, для чого не обов'язково мати великий кристал із правильним зовнішнім огранюванням, а досить крупинки кристалічної речовини. Оскільки довжини хвилі рентгенівського випромінювання в порівнянні з міжатомними відстанями в кристалічних структурах, де кристали є природними дифракційними ґратками. Саме за допомогою дифракції рентгенівських променів була доведена ґраткова будова кристалів.

 


 

 

Схема, що пояснює дифракцію, подана на рисунку 1.10:

- пучок монохроматичних рентгенівських променів, що падають під кутом Ө на родину паралельних атомних площин;

S - пучок дифрагованих променів. Дифраговані промені підсилюють один одного, якщо відповідно до умови інтерференції різниця ходу Δ між ними дорівнює цілому числу довжин хвиль, тобто:

Δ = nλ (п = 1, 2, 3,...).

Із креслення видно, що різниця ходу між падаючим і дифрагованим променями дорівнює

Δ = РO + OQ = 2РО = 2dsin Ө.

Щоб хвилі між двома сусідніми плоскими сітками дали максимум інтенсивності, необхідне виконання основного закону дифракції рентгенівських променів у кристалах

2dsinӨ = nλ (п = 1, 2, 3,...).

Ця рівність виражає вимоги Вульфа - Брегга.

Інакше кажучи, якщо промінь із довжиною хвилі λ падає на сукупність паралельних атомних площин, що знаходяться один від одного на відстані d, то він породжує дифрагований промінь, що йде так, як ішов би промінь, відбитий під кутом Ө. Таким чином, при певних кутах падіння плоскі сітки в структурі кристала можуть «відбивати» рентгенівські промені. Ці відбиття (точніше максимуми інтенсивності дифрагованих променів) можна зареєструвати на фотографічній пластинці за допомогою іонізаційного спектрометра. Симетричний закономірний візерунок на рентгенограмі відображає симетрію й закономірність структури кристала й дає можливість вимірювати відстані між атомними площинами й кути між ними, які на багатогранних формах кристалів є кутами між гранями. За рентгенограмами можна вивчати структури кристалів, знаходити міжплощинні відстані d, діагностувати кристалічні речовини.

 






Не нашли, что искали? Воспользуйтесь поиском:

vikidalka.ru - 2015-2024 год. Все права принадлежат их авторам! Нарушение авторских прав | Нарушение персональных данных