Главная

Популярная публикация

Научная публикация

Случайная публикация

Обратная связь

ТОР 5 статей:

Методические подходы к анализу финансового состояния предприятия

Проблема периодизации русской литературы ХХ века. Краткая характеристика второй половины ХХ века

Ценовые и неценовые факторы

Характеристика шлифовальных кругов и ее маркировка

Служебные части речи. Предлог. Союз. Частицы

КАТЕГОРИИ:






Різними символами в простій




Кубічній решітці

 

На рисунку 2.6 показані символи деяких площин у плоскій сітці (індекс по осі Z дорівнює нулю). Тут неважко помітити характерну рису, загальну для будь-яких структур: чим простіше символ площини (тобто чим менше значення індексів), тим більша ретикулярна щільність цієї площини. Площини з більшими індексами мають малу ретикулярну щільність. Оскільки загальне число вузлів у одиниці об'єму для кожної даної структури постійне, відстані між паралельними площинами будуть тим більші, чим більша ретикулярна щільність цих площин. Таким чином, площини з малими індексами мають більшу ретикулярну щільність і більші міжплощинні відстані. Саме ці площини найчастіше трапляються на реальних кристалах (закон Браве).

Отже, будь-яку кристалографічну площину й будь-яку грань кристала можна визначити трьома цілими числами-індексами Міллера, які являють собою:

1) коефіцієнти в рівнянні площини, написаному в параметричній формі (за умови, що координати виражені у відносних одиницях х/а, у/b, z/с), або

2) величини, обернено пропорційні відрізкам, що відтинаються площиною на осях координат, або

3) величини, пропорційні подвійним відношенням осьових відрізків відповідно до закону цілих чисел.






Не нашли, что искали? Воспользуйтесь поиском:

vikidalka.ru - 2015-2024 год. Все права принадлежат их авторам! Нарушение авторских прав | Нарушение персональных данных