Раздел 5 Методы исследования внутреннего строения кристаллов

Тема 8 Дифракционные и спектроскопические методы исследования кристаллов

Дифракционные методы: рентгенография, электронография, нейтронография.

Получение рентгеновского излучения. Электронная рентгеновская трубка. Сплошное (полихроматическое) и характеристическое (монохроматическое) излучение и их спектры. Длина волны монохроматического излучения и ее зависимость от материала анода. Дифракция рентгеновского излучения на кристаллах. Уравнение Брэгга–Вульфа. Порядок отражения. Межплоскостное расстояние. Дифракция на монокристаллах и поликристаллах.

Порошковая рентгенография (метод Дебая–Шеррера–Халла). Получение картины дифракции. Рентгеновская камера Дебая. Дебаеграмма (порошкограмма). Определение брэгговского угла. Относительная интенсивность дифракционных полос. Дифрактограмма.

Рентгенофазовый и рентгеноструктурный анализ. Определение межплоскостных расстояний, относительной интенсивности дифракционных полос, индицирование дифрактограмм поликристаллов с кубической решеткой, определение параметра решетки. Картотека дифрактограмм «Порошковая дифракционная картотека объединенного Комитета порошковых дифракционных стандартов» (PDFJCPDS).

Спектроскопические методы: инфракрасная и рентгеновская спектроскопия.

Взаимодействие инфракрасного излучения с молекулами и атомами кристаллического вещества. Колебательный спектр. Пропускание. Волновое число (частота). Нормальные колебания: валентные, деформационные. Симметричные и антисимметричные колебания. Вырожденные колебания. Характеристическая частота. Качественный и количественный фазовый анализ с использованием инфракрасной спектроскопии.

Не нашли, что искали? Воспользуйтесь поиском: