Главная

Популярная публикация

Научная публикация

Случайная публикация

Обратная связь

ТОР 5 статей:

Методические подходы к анализу финансового состояния предприятия

Проблема периодизации русской литературы ХХ века. Краткая характеристика второй половины ХХ века

Ценовые и неценовые факторы

Характеристика шлифовальных кругов и ее маркировка

Служебные части речи. Предлог. Союз. Частицы

КАТЕГОРИИ:






ПОВЕРХНОСТНЫЕ СВОЙСТВА КРИСТАЛЛОВ




Лекция 23. ЖИДКИЕ КРИСТАЛЛЫ. ДЕФЕКТЫ КРИСТАЛЛОВ.

ВЛИЯНИЕ ДЕФЕКТОВ НА ПРОЧНОСТЬ.

ПОВЕРХНОСТНЫЕ СВОЙСТВА КРИСТАЛЛОВ

 

1. Жидкие кристаллы

 

Жидкими кристаллами называются жидкости, молекуляр­ная структура которых характеризуется наличием дальнего порядка вдоль одного направления (в кристаллах дальний порядок присущ всем трем направлениям). Такие жидкости обладают одновременно свойствами твердого тела и жидко­сти: как твердые тела обладают пространственной анизотро­пией, как жидкости — высокой пластичностью. Поэтому счи­тается, что жидкие кристаллы — это мезоморфное (промежу­точное) состояние.

Как правило, молекулы жидких кристаллов обладают дипольными моментами, взаимодействие между которыми и приводит к взаимному упорядочению в расположении мо­лекул.

В зависимости от условий образования жидкие кристаллы подразделяются на термотропные (образуются при измене­нии температуры), лиотропные (образуются в результате растворения твердого тела в растворителях) и фототропные (образуются в результате какого-либо облучения). Под воздействием электрического и магнитного поля дипольные мо­менты молекул некоторых жидкостей ориентируются парал­лельно, и жидкость ведет себя как одноосный кристалл, про­являя резко выраженную анизотропию физических свойств.

Многие органические жидкости относятся к жидким кри­сталлам. Как правило, это органические вещества, молекулы которых имеют сильно вытянутую форму. Для таких жидко­стей часто оказывается энергетически выгодно иметь совпа­дение осей молекул вдоль одного направления.

В зависимости от ориентации молекул различают (рис. 24.1): а — нематические; б — холестерические; в — смектические жидкие кристаллы. У нематических кристаллов в макропределах оптические оси молекул параллельны, однако не сохраняется одинаковая ориентация молекул вдоль всего образца. Молекулы объ­единяются в группы (рои) с одинаковой ориентацией мо­лекул. На рис. 24.1, а изо­бражен один из роев. В со­седних роях ориентации осей молекул не совпадают.

У холестерических кристаллов молекулы ориентированы так, что их оси при переходе от слоя к слою располагаются по винтовой линии; у смектических — наблюдается слоис­тость расположения молекул.

Жидкие кристаллы (или жидкокристаллическое состоя­ние) существуют лишь в определенном интервале температур (от 2°С до 150 °С). У некоторых веществ существует не­сколько температурных интервалов жидкокристаллического состояния. Нагревание жидких кристаллов переводит их в состояние обычной жидкости, охлаждение — в кристалличе­ское.

В кристаллическом состоянии твердому телу энергетиче­ски выгоден по всем степеням свободы дальний порядок. На­гревание может привести твердое тело в такое состояние, при котором по поступательным степеням свободы дальний порядок нарушается и сохраняется ближний, а по вращатель­ным сохраняется и дальний. Дальнейшее нагревание нару­шает дальний порядок по вращательным степеням свобо­ды — вещество переходит в обычную жидкую фазу.

Таким образом, принципиальное отличие жидких кристал­лов от твердых — в степени упорядоченности, которая и опре­деляет то, что фазовые состояния твердого и жидкого кри­сталла различны. Эксперимент подтверждает существование двух кристаллических фаз: переходы твердое тело ↔ жидкий кристалл, жидкий кристалл ↔ аморфное тело сопровожда­ются поглощением или выделением энергии, изменением удельного объема.

В жидких кристаллах ярко выражено явление рекристал­лизации: граница раздела двух фаз (аморфная и кристалли­ческая), граница раздела «кристаллических зерен» (областей с одинаковой ориентацией молекул) не является строго стабильной, способна легко перемещаться.

Анизотропия жидких кристаллов, изменение их свойств (вязкости, поверхностного натяжения, электропроводности, цвета, магнитных, диэлектрических свойств и т. д.) под воз­действием самых разнообразных энергетических факторов: температуры, механических деформаций, электрических и магнитных полей, света, рентгеновского, γ - излученийи т. д., находит весьма широкое практическое применение. Укажем на некоторые из них:

- изменение ряда оптических свойств. В результате внешних воздействий (температуры, электрического и маг­нитного поля, механических напряжений, химических реак­ций, различного вида излучений) происходит изменение окраски, светопоглощения, «памяти» (ставший непрозрачным под воздействием электрического поля тонкий слой жидкого кристалла сохраняет длительное время непрозрачность и после выключения поля);

- преобразование инфракрасного излучения в видимое («видение» в темноте). Черная мембрана — поглотитель ин­фракрасных лучей покрывается тонким слоем жидкого кри-сталла. Цвет кристалла (в отра­женном свете) зависит от температуры, поэтому при освещении белым светом видно изображе­ние участков пленки, па которые попало инфракрасное излуче­ние;

- очистка (поверхностная активность). Растворенное в воде мыло и многие моющие пре­параты являются смектическими кристаллами. Мыльный раствор состоит из множества двойных слоев молекул мыла (отрицательные концы которых обраще­ны к воде), между которыми на­ходится вода (рис. 24.2).

Большая часть загрязнений (сажа, жиры, масла, пыль и т. д.) не смачиваются чистой водой. Мыло как поверхност­но-активное вещество уменьшает коэффициент поверхност­ного натяжения воды примерно вдвое, что приводит к смачи­ванию загрязнений. Они обвалакиваются мыльной пленкой, легко скользят и переходят в водный раствор.

В заключение отметим необычайно большую роль жид­ких кристаллов в живой природе. Распространенность жид­ких кристаллов в биологических системах обусловлена их высокой чувствительностью к окружающей среде, а также внутриклеточным процессам, гибкостью структуры, достаточ­ной устойчивостью к внешним воздействиям; весьма высокой энергетической эффективностью процессов, происходящих в биологических жидких кристаллах. Крайне важна роль жид­ких кристаллов в обменных процессах, они — среда для дей­ствия сложных внутриклеточных катализаторов, основа дей­ствия мышечных и опорных тканей. Наш мозг (дезоксирибонуклеиновая кислота, несущая код наследственной информа­ции) является сложной жидкокристаллической структурой.

 

Дефекты кристаллов

 

В природе не существует кристаллов, имеющих идеаль­ную структуру: правильное, бесконечно повторяющееся в пространстве расположение частиц в кристаллической решетке. Реальная кристаллическая решетка всегда обладает рядом нарушений геометрического совершенства пространст­венной решетки. Различные нарушения правильности струк­туры кристалла называются дефектами. Их можно подраз­делить на макроскопические и микроскопические. К макро­скопическим относятся трещины, инородные включения, поры и т. п. К микроскопическим относятся точечные, линейные (их чаще называют дислокациями) и двумерные дефекты. Дефекты, нарушая периодичность кристаллической решетки, приводят к локальному искажению электрического поля в структуре твердого тела. Даже небольшое количество дефек­тов сильно влияет на физические свойства кристаллов, со­здает вокруг себя микрообласти повышенной физико-химиче­ской активности. Рассмотрим основные типы микроскопиче­ских дефектов. Точечные дефекты можно подразделить на энергетические, электронные и атомные. Наиболее распрост­ранены энергетические дефекты — временные искажения регулярности решетки, вызванные тепловым движением (по­скольку тепловому движению в твердом теле сопоставляется перемещение квазичастицы — фонона, то можно говорить о фононах как энергетических дефектах).

К электронным дефектам относятся избыточные электро­ны или дырки (дырками называют незаполненные электро­нами валентные связи) и экситоны (экситон — дырка и элек­трон, связанные кулоновскими силами, представляют собой парный дефект).

К атомным дефектам относят (рис. 24.3): наличие в кри­сталлической решетке вакантных узлов (рис. 24.3, а) — де­фекты Шоттки, наличие лишних атомов данного кристалла А, либо посторонних атомов В в междоузлиях (рис. 24.3,6, в) — дефекты Френкеля; наличие примесных атомов В, замещаю­щих атомы основных компонентов в узлах (рис. 24.3,г).

Точечные дефекты спонтанно или в результате внешних воздействий могут концентрироваться, образуя скопления в виде линий — линейные дефекты (дислокации) или в виде плоскостей (двумерные дефекты).

В отличие от точечных дефектов дислокации охватывают до миллиона частиц кристалла. Основными видами дислока­ций являются краевая и винтовая.

Краевая дислокация может быть получена за счет сдвига двух частей кристалла (рис. 24.4, а). Если воздействовать на кристалл силами , как показано на рисунке, то верхняя часть кристалла будет скользить по нижней.

Как видно, сдвиг охватил не всю плоскость скольжения (A'B'CD),а лишь участок ABCD, граница сдвига АВ. Верх­няя часть параллелепипеда сдвинулась относительно нижней на одно межатомное расстояние d. Площадь сдвига ABCD на рис. 24.4, а заштрихована.

Краевую дислокацию можно рассматривать как резуль­тат внедрения некоторой дополнительной атомной плоскости, перпендикулярной плоскости скольжения, край которой огра­ничивается линией АВ (на рис. 24.4, 6 конец ее обозначен символом ). Эта плоскость действует как клин, изгибая и искажая решетку вдоль своего нижнего края (линия АВ).

Верхняя часть кристалла (выше символа ) содержит на один ряд узлов больше, чем нижняя. В ядре дислокации строение кристалла сильно искажено. Поэтому не требуется больших усилий для перемещения атомов в области дислока­ций, в результате этих усилий может наблюдаться последо­вательное перемещение линии дислокации на одно межатом­ное расстояние d. На рис. 24.5 показано перемещение дисло­кации (положения а, б, в, г, д)под действием касательных к кристаллу сил F в результате последовательного разрыва межатомных связей у атомов одного ряда кристаллической решетки с другим. Как видно, в данном случае процесс пере­мещения дислокации закончился смещением частиц кристал­ла на одно межатомное расстояние d с исчезновением крае­вой дислокации (выходом ее наружу — положение д).

Винтовую дислокацию можно представить себе как сме­щение в результате небольшого поворота вокруг оси ОО' на угол d φодной части решетки (блока D)относительно другой части (блока С), в результате чего один край кристалла вы­ступает на один период решетки d (рис. 24.6). На рис. 24.6, а линия дислокации АВ изображена пунктиром.

Если посмотреть на кристалл справа, то проекции двух соседних горизонтальных атомных плоскостей блоков С и D оказываются смещенными (рис. 24.6,б); проекции атомных плоскостей блока С изображены сплошными линиями, бло­ка D, сдвинутого вниз, — штрихами. Винтовые дислокации играют важную роль в процессе роста кристаллов.

В принципе любая реальная дислокация может быть пред­ставлена как сочетание краевой и винтовой дислокаций.

К двумерным дислокациям относятся: сама поверхность кристалла, границы зерен кристалла (зерна — участки, име­ющие иную ориентацию решеток по отношению к основному кристаллу), совокупность близко расположенных рядов ли­нейных дислокаций.

Для характеристики дислокаций вводится понятие плот­ности дислокаций — число дислокационных линий, пересека­ющих единичную площадку, проведенную в кристалле. Плот­ность дислокаций в реальных кристаллах меняется в зависи­мости от способа получения в широких пределах: от 102 до 1012 см-2.

Повышение температуры приводит к резкому увеличению точечных дефектов. Например, относительная концентрация дефектов Шоттки возрастает при температуре T ≈ 1000 К до 10-2.

Поэтому с изменением температуры весьма резко изменя­ются многие физико-механические свойства твердого тела (механические, электрические, магнитные, оптические и т. д.).

Количество линейных дислокаций (в отличие от точеч­ных) практически не зависит от температуры. Это объясня­ется большой энергией линейной дислокации. Линейные дефекты охватывают своим искаженным электрическим полем большое число атомных узлов. Хотя ширина линейной дисло­кации невелика (несколько периодов решетки), энергия дис­локаций оказывается большой (до 30 эВ) благодаря тому, что линии простираются до величины сотен тысяч периодов решетки.

Именно благодаря большой энергии линейной дислокации повышение температуры не приводит к возникновению ли­нейных дефектов, но зато небольшие напряжения (105 н/м2), вызванные внешним воздействием, приводят к перемещению линейной дислокации. Дислокации при этом взаимодействуют между собой и другими дефектами, в результате чего проис­ходит рост числа дислокаций, что существенно меняет меха­нические свойства кристалла.

 






Не нашли, что искали? Воспользуйтесь поиском:

vikidalka.ru - 2015-2024 год. Все права принадлежат их авторам! Нарушение авторских прав | Нарушение персональных данных