ТОР 5 статей:
Методические подходы к анализу финансового состояния предприятия
Проблема периодизации русской литературы ХХ века. Краткая характеристика второй половины ХХ века
Характеристика шлифовальных кругов и ее маркировка
Служебные части речи. Предлог. Союз. Частицы
КАТЕГОРИИ:
- Археология
- Архитектура
- Астрономия
- Аудит
- Биология
- Ботаника
- Бухгалтерский учёт
- Войное дело
- Генетика
- География
- Геология
- Дизайн
- Искусство
- История
- Кино
- Кулинария
- Культура
- Литература
- Математика
- Медицина
- Металлургия
- Мифология
- Музыка
- Психология
- Религия
- Спорт
- Строительство
- Техника
- Транспорт
- Туризм
- Усадьба
- Физика
- Фотография
- Химия
- Экология
- Электричество
- Электроника
- Энергетика
Стохастические показатели качества реальных микро- и нанотехнологий
Ввиду сложности определения параметра Ni прямыми теоретическими (конструктором изделия) и экспериментальными методами, проведем его оценку на основе использования традиционных производственных показателей. Из всей совокупности последних в качестве параметра, определяющего взаимосвязь между параметрами Ht и Hi, уместно рассматривать вероятность выхода годных изделий. Представляется очевидным, что в первом приближении вероятность выхода годных изделий P зависит от соотношения между избирательностью технологии at и избирательностью ai, заложенной конструктором изделия для безусловного (P = 1) достижения функционального качества устройства (на практике, как правило, выполняется условие a t < a i):
 .
| (2.34) |
С учетом выражения (2.30) и (2.34) для необходимой энтропии единичного размещения hi, при условии a i >> 1 (что имеет место для случаев микро- и нанотехнологий) имеем
 .
| (2.35) |
В табл. 2.9 представлены значения параметров a i и h i, в зависимости от уровня технологии и вероятности выхода годных устройств.
Т а б л и ц а 2.9. Зависимость избирательности и энтропии единичного размещения hi от уровня технологии и вероятности выхода годных устройств (при значении m=100)
| № | Уровень технологии | Показатель | Вероятность выхода годных устройств | ||||
| 10-3 | 10-2 | 10-1 | 0,5 | 1,0 | |||
| Перспективный (нано: a t = 1010) | hi | 1,5×10-12 | 1,4×1011 | 1,3×10-10 | 6×10-10 | 1,2×10-9 | |
| ai | 1013 | 1012 | 1011 | 2×1010 | 1010 | ||
| Высокий (микро: a t = 108) | hi | 1,3×10-10 | 1,2×10-9 | 1,1×10-8 | 5,2×10-8 | 10-7 | |
| ai | 1011 | 1010 | 109 | 2×10-8 | 10-8 |
Согласно данным табл. 2.9 следует, что достижение приемлемой в промышленной практике эффективности производства (Р > 0,1) возможно для изделий с показателями ai < 1011 и 109 соответственно для перспективного и высокого уровней технологии.
В табл. 2.10 представлены значения Ni в зависимости от объема и вероятности выхода годных устройств, полученные на основании данных табл. 2.9.
Т а б л и ц а 2.10. Зависимость количества реализаций Ni от физического объема и вероятности выхода годных устройств (при m= 100)
| № | Уровень технологии | Объем, мкм3 | Вероятность выхода годных устройств | ||||
| 10-3 | 10-2 | 10-1 | 0,5 | 1,0 | |||
| Перспективный (нанотехнологии: a t = 1010) | (14) | (130) | (620) | (103) | |||
| 10-3 | 1,00 | 1,03 | 1,34 | 4,23 | 15,8 | ||
| 10-6 | 1,00 | 1,00 | 1,00 | 1,00 | 1,00 | ||
| Высокий (микротехнологии: a t = 108) | (130) | (103 ) | (104 ) | (104 ) | (105 ) | ||
| 10-3 | 1,34 | 15,8 | (11) | (52) | (102) | ||
| 10-6 | 1,00 | 1,00 | 1,02 | 1,12 | 1,26 |
Примечание: запись вида (14) означает, что lg Ni = 14.
Наличие в табл. 2.10 значений Ni близких единице свидетельствует о том, что для данных позиций конструктором закладывается, а технологу необходимо реализовать (при приемлемой вероятности выхода годных изделий) практически вырожденные конструкции, которым соответствуют единичные реализации размещения атомов. В то же время следует отметить, что для современных устройств (V > 1 мкм3) количество реализаций Ni при P > 0,1 достигает значений Ni >10130.
В свете вышеизложенного весьма важным моментом является установление взаимосвязи между сложностью изделия (закладываемой конструктором на этапе проектирования) и уровнем технологии, необходимым для обеспечения заданного выхода годных изделий. Указанная взаимосвязь может быть установлена на основании выражений (2.31),(2.33) и (2.34) в виде
 .
| (2.36) |
Последнее выражение позволяет определить эффективность согласования конструкторских решений (параметр С) с технологическими возможностями изготовления устройств (параметр К) для типичных производственных ситуаций, удовлетворяющих условию 
. Это условие позволяет обеспечить нормировку параметра P в виде 0 < P <1. При выполнении условия 
(что представляется маловероятным для случая микро- и нанотехнологий) имеет место: P = 1.
Не нашли, что искали? Воспользуйтесь поиском: