Дифракция рентгеновских лучей

Если поставить две дифракционные решетки одна за другой так, чтобы их щели были перпендикулярны, то первая решетка дает ряд максимумов, положение которых определяется условием

Вторая решетка разобьет каждый из образовавшихся пучков на расположенные максимумы, перпендикулярные максимумам от первой решетки и удовлетворяющие условию:

Даваемая таким образом картина будет представлять вид правильно расположенных пятен, каждое из которых будет удовлетворять указанным условиям и и каждому будет соответствовать пара чисел m₁, m₂. (Та же картина получится, если разделить пластинку на систему взаимно перпендикулярных штрихов. Такая пластина называется двумерной периодической структурой).

Дифракция наблюдается и на трехмерных структурах, обнаруживающим периодичность по трем пространственным направлениям. К таким структурам относятся кристаллические тела. Однако для видимого света (), так как период кристаллической решетки 10^-10м. Условие будет выполняться для рентгеновских лучей. В 1913 году Лауэ, Фридрих обнаружили дифракцию на рентгеновских лучах. Русский ученый Вульф и английский Брегги независимо друг от друга предложили простой метод расчета дифракционной картины от кристаллической решетки. Этот метод основан на интерференции отраженных от атомных слоев плоских вторичных волн, которые будут усиливать друг друга в определенных направлениях, определяемых условием

, - формула Вульфа-Бреггов

- угол скольжения

d – период идентичности кристалла в направлении, перпендикулярном слоям.

Получается на фотопластине картина в виде точек, взаимное расположение которых отражает симметрию кристалла. По расстоянию между пятнышками и интенсивности определяют расположение атомов.

По дифракционной картине от различно направленных в кристалле атомным слоям можно выяснить кристаллическую структуру. Атомные слои, густо населенные атомами, дают более интенсивные максимумы.

Рентгенострукту́рный ана́лиз (рентгенодифракционный анализ) — один из дифракционных методов исследования структуры вещества. В основе данного метода лежит явление дифракциирентгеновских лучей на трёхмерной кристаллической решётке.

Явление дифракции рентгеновских лучей на кристаллах открыл Лауэ, теоретическое обоснование явлению дали Вульф и Брэгг (условие Вульфа — Брэгга). Как метод, рентгеноструктурный анализ разработан Дебаем и Шеррером.

Метод позволяет определять атомную структуру вещества, включающую в себя пространственную группу элементарной ячейки, её размеры и форму, а также определить группу симметрии кристалла.

Рентгеноструктурный анализ и по сей день является самым распространённым методом определения структуры вещества в силу его простоты и относительной дешевизны.

Не нашли, что искали? Воспользуйтесь поиском: