![]() Обратная связь ТОР 5 статей: Методические подходы к анализу финансового состояния предприятия Проблема периодизации русской литературы ХХ века. Краткая характеристика второй половины ХХ века Характеристика шлифовальных кругов и ее маркировка Служебные части речи. Предлог. Союз. Частицы КАТЕГОРИИ:
|
Методы исследования поверхности твердого тела
Введение Предмет изучения – методы, в которых для получения аналитического сигнала используются чисто физические воздействия. Аналитическая информация – элементный состав, концентрация, химический состав (качественный и количественный). Сюда же примыкают структурные исследования, изучение морфологии поверхности. В основе большинства физических методов лежит изучение характера взаимодействия ЭМ либо корпускулярного излучения с веществом. На сегодняшний момент существует очень большое количество методов, которые не поддаются классификации. Среди них выделяют две большие группы: различные молекулярные спектроскопии и методы исследования поверхности. Вторая группа – методы исследования твердотельныз образцов в том виде, в котором они получены. Само выражение «исследование поверхности» подчеркивает высокую чувствительность этих методов, а также вполне определенную, как правило, небольшую, глубину зондирования, позволяющую отличить поверхность от объёма. Выбор рассматриваемых методов диктуется следующими обстоятельствами: общеупотребительность, взаимодополняемость[1], доступность. Все эти методы реализованы в стране в тех или иных институтах. Методы исследования поверхности твердого тела Все методы базируются на эффекте взаимодействия зондирующего пучка с поверхностью образца. В качестве зондирующего излучения рассматриваются фотоны, электроны и ионы. Эффектами являются поглощение, рассеяние и отражение, генерация вторичных частиц в виде фотонов, электронов, ионов и молекулярных фрагментов. Иначе говоря, мы можем следить за протеканием эффектов, регистрируя ионные, фотонные и электронные потоки. Единственное, следует иметь в виду, что эти потоки могут быть обусловлены первичным либо вторичным излучением. Следить – значит, что нас интересует энергия и интенсивность излучения с поверхности образца. Такое многообразие как средств зондирования, так и эффектов, происходящих при зондировании, породило очень большое количество методов исследования поверхности.
Итак, пусть на образец действуют рентгеновским излучением и в результате облучения выбиваются электроны. Мы исследуем энергетический спектр этих электронов. Метод получил название рентгенофотоэлектронной спектроскопии.
Дополнительные возможности открываются при использовании ионных пучков.
Наконец, если поверхность образца облучается ионами, то в результате можно наблюдать её распыление. А образующиеся распыленные частицы можно исследовать масс-спектрометрически. Метод получил название вторично-ионной масс-спектрометрии Не нашли, что искали? Воспользуйтесь поиском:
|