ТОР 5 статей: Методические подходы к анализу финансового состояния предприятия Проблема периодизации русской литературы ХХ века. Краткая характеристика второй половины ХХ века Характеристика шлифовальных кругов и ее маркировка Служебные части речи. Предлог. Союз. Частицы КАТЕГОРИИ:
|
Дальняя тонкая структура спектра рентгеновского поглощенияExtended X-ray Absorption Fine Structure (EXAFS). Этот метод позволяет получать информацию о строении твердого тела, а также молекул в растворе на уровне среднего и ближнего порядка. В отличие от методов рентгенной и электронной дифракции этот метод не требует реализации более или менее выраженного дальнего порядка, т.е. образования кристаллитов. EXAFS – основной метод исследования аморфных веществ, а также структуры комплексов (ферментов) в химической среде (растворе). EXAFS базируется на использовании характеристического рентгеновского излучения, которое не зависит от кристалличности образца и определяется структурой ближайшего окружения. Природа EXAFS связана с интерференцией выбитых электронов на соседних атомах. Эти осцилляции могут достигать 10% общей интенсивности поглощенного рентгеновского излучения, они несут информацию о строении первой, а также второй (в некоторых случаях третьей) координационных оболочек для атома данного типа. Дальнодействие, отвечающее за появление EXAFS примерно равно 6Å. Фотон, выбитый из внутренней оболочки i-го атома будет иметь ħw=Есв. Выбитый электрон является корпускулярно-волновой частицей. Его можно представить в виде сферической волны, которая будет характеризоваться волновым числом к=Р/ħ. Эта сферическая волна, достигшая соседнего j-го атома, может отразиться (рассеяться) с вероятностью f. Не нашли, что искали? Воспользуйтесь поиском:
|