Связи между элементами ЦУ.

Функциональная надежность ЦУ, построенного по схеме, содержащей опасные состязания, характеризуется величиной пара­метра функциональной надежности

?????????

где отношение минимального к максимальному времени восста­новления характеризует относительный разброс задержки, а Д = — отношение количества состязающихся логических эле­ментов.

Удельная информационная емкость Iуд характеризует коэффи­циент использования логических элементов при обработке определенного объема информации

У= Ilog₂M;

М — коли­чество устойчивых состояний ЦУ (для счетчиков — коэффициент пересчета).

Коэффициенты объединения и разветвления определяются максимальным количеством входов и логических выходов одного элемента ЦУ. Электрические и химические процессы, происходящие в полупроводниках ИМС во время и после их изготовления, приводят к изменению состояния последних, а следовательно, к возникнове­нию отказов. Возникновению любого отказа предшествует посте­пенное изменение состояния ЦУ я так называемое предотказовое состояние. Однако в одних случаях мы его можем зафиксировать до момента наступления неработоспособного состояния, которое характеризуется постепенным отказом, а в других случаях отказ проявляется во времени неожиданно и классифицируется, как внезапный отказ.

Задачей диагностирования ЦУ является определение их технического состояния и выявление отказавших элементов, предотказовых состояний и других повреждений. В основе диагностирования ЦУ лежат две группы методов: неразрушающие физические методы и средства технического диагностирования, т. е. измерения физических величин, и методы, базирующиеся на контрольных логических тестах, обеспечивающих контроль исправности ЦУ, диагностирование отказов и локализацию мест их возникновения.

Не нашли, что искали? Воспользуйтесь поиском: