![]() ТОР 5 статей: Методические подходы к анализу финансового состояния предприятия Проблема периодизации русской литературы ХХ века. Краткая характеристика второй половины ХХ века Характеристика шлифовальных кругов и ее маркировка Служебные части речи. Предлог. Союз. Частицы КАТЕГОРИИ:
|
Методи визначення ступеню компенсації домішок в напівпровідникахНайважливішою задачею практичної метрології напівпровідників є роздільне визначення концентрації донорів (Nд) і акцепторів (Na). Якщо в напівпровіднику донори і акцептори містяться в приблизно рівній концентрації, то електрони, що віддаються донорами, захоплюються безпосередньо акцепторами, і, таким чином, в провідності беруть участь переважно власні носії заряду. Такий напівпровідник називають компенсованим і як міра ступеня компенсації вводять коефіцієнт Компенсовані напівпровідники в першому наближенні виглядають як власні, тобто чисті. Ця компенсація негативно позначається на параметрах приладів і мікросхем в основному із двох причин: 1. Оскільки в компенсованих напівпровідниках велика сумарна концентрація іонізованих домішок Ni= Nd+N 2. В технологічному циклі виготовлення приладів і мікросхем «рівновага» між Nd і N При Nd>>N c= Існує безліч методів визначення ступеня компенсації або роздільного змісту донорів і акцепторів в напівпровідниках. Проте досвідчені фахівці «відчувають» компенсований матеріал навіть по деяких «зовнішніх ознаках». Зокрема, сигналом про можливу компенсацію може бути переважання р-типа провідності, оскільки при Nd»N Основна ідея роздільного визначення Nd і N
Розглянемо деякі методи роздільного визначення Nd і N
Не нашли, что искали? Воспользуйтесь поиском:
|