ТОР 5 статей: Методические подходы к анализу финансового состояния предприятия Проблема периодизации русской литературы ХХ века. Краткая характеристика второй половины ХХ века Характеристика шлифовальных кругов и ее маркировка Служебные части речи. Предлог. Союз. Частицы КАТЕГОРИИ:
|
Связь индикатрисы с симметрией кристалловКак мы видели, в одноосных минералах оптическая ось всегда совпадает с главной осью симметрии кристалла. Поскольку в этих минералах индикатриса является эллипсоидом вращения, то ее положение строго фиксировано. В ромбической сингонии три главные оси индикатрисы всегда совпадают с тремя двойными осями кристаллов. В каждом конкретном случае направления колебаний nm, ng и пр, совпадают с разными кристаллографическими осями а, b и с ([100], [010], [001]), что должно отмечаться при описании оптических свойств минералов. Но при этом сочетание двух направлений колебаний с определенными кристаллографическими осями всегда сохраняется. В моноклинной сингонии лишь одна ось индикатрисы постоянно совпадает с единственной осью симметрии (кристаллографической осью b [010]), присущей этой сингонии. Сама индикатриса может занимать любое положение относительно кристаллографических осей. При описании оптических характеристик моноклинных минералов необходимо указывать, какое главное направление колебаний соответствует оси b, а также отмечать угол между одним из двух главных направлений колебаний и кристаллографической осью с (или а). В триклинной сингонии положение индикатрисы не связано с кристаллографическими осями. Поэтому при описании кристаллов этой сингонии необходимо указывать углы между осями индикатрисы и двумя главными направлениями колебаний (для каждого относительно трех кристаллографических осей). На практике направление колебаний проще определять по углам погасания на хорошо проявленных пинакоидах (а еще лучше – на плоскостях спайности или двойникования). Такие пинакоиды часто соответствуют плоскости, содержащей две кристаллографические оси. Одна из главных задач оптической минералогии состоит в определении положения индикатрисы относительно физических направлений в кристалле (т. е. кристаллографических плоскостей), а отсюда – ее положения по отношению к кристаллографическим осям. При наличии таких данных мы можем использовать сведения об ориентации оптических направлений для идентификации минералов. Некоторые изменения в оптической ориентации индикатрисы могут быть связаны с колебаниями состава, вызванными замещениями атомов в решетке минерала. Не нашли, что искали? Воспользуйтесь поиском:
|